一個國際研究小組首次成功地將X射線用于利用光的特定量子特性的成像技術。正如研究人員在剛剛發(fā)表在《物理評論快報》雜志上的工作中所描述的那樣（“通過X射線熒光光子的相關性成像”），這項技術可以實現(xiàn)非結(jié)晶大分子的成像。由德國科學家領導的研究團隊使用來自歐洲XFEL X射線自由電子激光器的非常強烈的X射線脈沖產(chǎn)生熒光光子，這些光子幾乎同時到達探測器，時間窗口短于飛秒。通過計算被照射的銅原子發(fā)射的X射線熒光的光子-光子相關性，可以獲得發(fā)射的圖像。
獨立光源發(fā)出的光，如原子發(fā)出的熒光，在隨機時間產(chǎn)生波，從而產(chǎn)生隨機相位的波。如果在相干時間內(nèi)測量，則該光將發(fā)生干涉并產(chǎn)生散斑圖案，如背景圖像中所示。這種模式不是固定的，并且許多這樣的模式的總和將平均為均勻分布。然而，如果相反地從每個模式計算對相關性，然后求和，則隨機相位將平均，以留下源的空間頻率內(nèi)容（q向量）的映射。材料和大分子的結(jié)構(gòu)通常是使用X射線晶體學在原子尺度上確定的。雖然該技術依賴于相干X射線散射，但熒光發(fā)射等非相干過程可能占主導地位，盡管它們對衍射測量沒有有用的貢獻。相反，它們?yōu)闇y量數(shù)據(jù)添加了一個無特征的霧或背景。
但早在20世紀50年代，兩位英國天文學家就證明了從自發(fā)光源發(fā)出的這種光中提取結(jié)構(gòu)信息確實是可能的——在他們的例子中是從恒星中提取的。Robert Hanbury-Brown和Richard Twiss的方法——稱為強度干涉測量法——為理解光打開了一扇新的大門，開啟了量子光學領域。最近，來自愛爾蘭根大學、馬克斯·普朗克物質(zhì)結(jié)構(gòu)與動力學研究所和DESY的科學家提出，強度干涉測量法可以適用于使用X射線熒光的原子分辨率成像。將這一想法擴展到X射線的挑戰(zhàn)在于，光子的相干時間非常短暫，它決定了執(zhí)行光子-光子相關性的可用時間間隔。它是由激發(fā)原子的輻射衰變時間設定的，對于銅原子來說，輻射衰變時間約為0.6飛秒。
現(xiàn)在，該小組與烏普薩拉大學和歐洲XFEL的科學家一起，通過使用該設施的飛秒持續(xù)時間XFEL脈沖在相干時間內(nèi)啟動X射線熒光光子，克服了這一挑戰(zhàn)。他們產(chǎn)生了一個由銅箔中的兩個熒光點組成的光源，并在八米外的百萬像素探測器上測量了熒光。DESY自由電子激光科學中心的主要作者解釋道：“對于這項開創(chuàng)性的實驗，我們收集了超過3 PB的數(shù)據(jù)，這是歐洲XFEL有史以來最大的實驗。然而，由于信號隨強度的平方而縮放，我們認為在未來的實驗中應該有可能大幅減少這種情況。”
